產品[
小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
]資料
如果您對該產品感興趣的話(hua),可以
產品名稱:
小麥品質分析和面粉麩星(xing)檢測儀
產品型號:
DSF-III
產品展商:
杭州(zhou)大(da)吉光(guang)電儀器(qi)有限公司
關注指數:552
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小麥品質分析和面粉麩星檢測儀快速測量小麥的粒數、千粒重、粒形、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等,面粉的麩星、砂石的大小和含量。用于實驗室快速檢測獲得批處理數據(包括小麥粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、芽麥率、黑胚率、破損率等;面粉的麩星、砂石的大小和含量)。小麥品質檢測方法符合GB/T 5504-2011《糧料檢驗 小麥粉加工精度檢驗》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。
小麥品質分析和面粉麩星檢測儀
的詳細介紹
小麥(mai)品質分(fen)析和面粉麩星(xing)檢測(ce)儀主(zhu)要性能(neng)指標:
大(da)分(fen)析面(mian)(mian)積:小麥(mai)為(wei)A4紙幅面(mian)(mian);面(mian)(mian)粉為(wei)35mm×35mm
測(ce)量時間:小麥(mai)≤2分鐘/樣品(pin);面粉(fen)≤1分鐘/樣品(pin)視野。
小(xiao)麥千粒重(zhong)測量(liang)重(zhong)復性誤差±≤0.5%
兩次掃描單面分析外觀品(pin)質的重(zhong)復性誤差±≤2.0%
可接入條碼槍來自(zi)動(dong)刷入樣品編號,分(fen)析結(jie)果可對應樣品編號輸出至(zhi)EXCEL表,分(fen)析圖像(xiang)標(biao)記結(jie)果可保(bao)存。
小(xiao)麥品質(zhi)分析(xi)和面(mian)粉(fen)麩星檢測儀儀器特點(dian):
儀器由(you)光(guang)學(xue)成像(xiang)(xiang)系(xi)統、智能(neng)分(fen)析軟件(jian)、220g量(liang)程1mg精度(du)電子(zi)天平組成。系(xi)統具(ju)有**的(de)(de)自學(xue)習能(neng)力,實(shi)現人(ren)性化的(de)(de)一鍵式智能(neng)分(fen)析,并可(ke)(ke)交(jiao)互(hu)修正(zheng)個別(bie)的(de)(de)分(fen)類(lei)錯誤點,以(yi)達(da)到100%正(zheng)確(que)分(fen)類(lei)結(jie)(jie)果(guo)。該分(fen)析系(xi)統能(neng)大批(pi)量(liang)處理,自動分(fen)析300個以(yi)上小(xiao)麥(mai)和(he)面粉樣品的(de)(de)高分(fen)辨率(lv)圖(tu)像(xiang)(xiang)。由(you)**軟件(jian)分(fen)析成像(xiang)(xiang)后的(de)(de)彩色(se)(se)/圖(tu)像(xiang)(xiang),準確(que)、快速(su)地測(ce)(ce)定小(xiao)麥(mai)的(de)(de)粒(li)(li)(li)數(shu)、千(qian)粒(li)(li)(li)重、籽(zi)粒(li)(li)(li)形狀、籽(zi)粒(li)(li)(li)整齊(qi)度(du)、籽(zi)粒(li)(li)(li)飽滿(man)度(du)(即:可(ke)(ke)按面積自動排序及輸(shu)出)、籽(zi)粒(li)(li)(li)顏色(se)(se)、霉(mei)變率(lv)、芽麥(mai)率(lv)、黑胚率(lv)、破損率(lv)等指標,以(yi)及面粉中的(de)(de)麩星粒(li)(li)(li)數(shu)和(he)大小(xiao)、麩星面積比和(he)對應的(de)(de)砂石占比。軟件(jian)能(neng)讓用戶(hu)實(shi)時(shi)看到真實(shi)樣品分(fen)析過程情(qing)況,并交(jiao)互(hu)修正(zheng);當面粉指標偏離(li)設定參數(shu)時(shi),可(ke)(ke)報警顯示(shi);用戶(hu)可(ke)(ke)隨意查(cha)詢檢測(ce)(ce)結(jie)(jie)果(guo),并打(da)印(yin)。所有測(ce)(ce)試(shi)圖(tu)像(xiang)(xiang)分(fen)析結(jie)(jie)果(guo)和(he)數(shu)據(ju)(ju)可(ke)(ke)在電腦(nao)上顯示(shi)并保存(cun)。數(shu)據(ju)(ju)準確(que)可(ke)(ke)靠(kao),結(jie)(jie)果(guo)穩(wen)定、重復性高;樣品可(ke)(ke)重復測(ce)(ce)試(shi),重現性高。